Estudio experimental del rendimiento de cajas de almacenamiento en cadena de frío utilizando refrigeración semiconductor

Qiu Lanlan ,  

Wang Yu ,  

Zhu Jieru ,  

Bao Jun ,  

Liu Jinxiang ,  

摘要

Las placas de refrigeración de semiconductores tienen un gran potencial de aplicación en el campo del transporte en cadena de frío debido a su pequeño tamaño y rápida velocidad de enfriamiento. Para probar la eficiencia de refrigeración de una caja de refrigeración semiconductor, este artículo construyó un banco de pruebas de rendimiento para el almacenamiento refrigerado y realizó un estudio experimental sobre el rendimiento operativo de las cajas de almacenamiento refrigerado que utilizan dos tipos de placas de refrigeración semiconductor TEC1-12706 y TEC1-12712. En el experimento se añadieron 2000 mL de hielo en la caja de almacenamiento para iniciar el experimento, y en otra prueba se utilizó una combinación de 1500 mL de hielo, 3 kg de alimentos y 3 botellas de agua mineral de 500 mL, cambiando simultáneamente el método de disipación de calor del extremo caliente y el método de soplado del ventilador del extremo frío. Los resultados muestran que, para las placas de refrigeración semiconductor del mismo modelo, el método de enfriamiento por agua ofrece un mejor efecto de refrigeración, pero con menor durabilidad; en comparación con el soplado lateral, el soplado del ventilador hacia abajo en el extremo frío organiza mejor el flujo de aire. Cuando el volumen de la caja de almacenamiento es de 0,1 m3 y se orienta a la refrigeración, se pueden usar dos placas TEC1-12706 con enfriamiento por aire en el extremo caliente, la temperatura máxima en el centro de la caja durante 10 h es aproximadamente 6 ℃ y la mínima aproximadamente 0 ℃; cuando la caja de almacenamiento de 0,1 m3 se orienta a la congelación, se pueden usar dos placas TEC1-12712 combinadas con enfriamiento por agua en el extremo caliente y soplado del ventilador hacia abajo en el extremo frío, manteniendo la temperatura interna de la caja por debajo de 0 ℃ durante 3 horas.

关键词

cadena de frío;refrigeración semiconductor;experimento de rendimiento de refrigeración;campo de temperatura;condiciones de operación

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