摘要
精密電子部品の環境試験において、環境試験箱内の温度場の均一性および変動は、試験効果に極めて重要です。高性能な環境試験箱の研究開発のために、本研究ではまず異なる送風口および還気口の形態（箱体構造）が速度場および温度場に与える影響に基づき、箱体内構造を最適化し、時計回りおよび反時計回りの構造を拡張して様々な構造形態を設計しました。これらの異なる構造形態について、異なる送風口の形態、角度および還気口構造を含めてシミュレーションを行い、シミュレーション結果を比較した後、円形還気口の幾何学的中心構造を持つ箱体について実験検証を行いました。研究結果は、7種類の異なる箱体構造モデルの中で、0°傾斜の時計回り、幾何学的中心位置の反時計回り、および複数の送風口モデルの3つのモデルの温度平均値と温度標準偏差が非常に近いことを示しています。温度場の均一性標準偏差に関して、実験データとシミュレーションデータの間には依然として一定の差異が存在します。すべての測定点の平均温度は-71.55℃、温度誤差は-1.55℃、最大温度偏差は1.8℃ですが、データの中心化を除去した後、各測定点の温度は類似した分布傾向を示しています。
关键词
環境試験箱;温度場;箱体構造設計;均一性
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